00:00
01:00
02:00
03:00
04:00
05:00
06:00
07:00
08:00
09:00
10:00
11:00
12:00
13:00
14:00
15:00
16:00
17:00
18:00
19:00
20:00
21:00
22:00
23:00
00:00
01:00
02:00
03:00
04:00
05:00
06:00
07:00
08:00
09:00
10:00
11:00
12:00
13:00
14:00
15:00
16:00
17:00
18:00
19:00
20:00
21:00
22:00
23:00
ع الموجة مع ايلي
02:29 GMT
148 د
مدار الليل والنهار
05:00 GMT
183 د
كواليس السينما
09:33 GMT
27 د
مدار الليل والنهار
البرنامج المسائي
13:00 GMT
183 د
مدار الليل والنهار
18:03 GMT
120 د
مدار الليل والنهار
20:03 GMT
30 د
مدار الليل والنهار
02:30 GMT
150 د
مدار الليل والنهار
05:00 GMT
183 د
On air
08:16 GMT
29 د
كواليس السينما
11:03 GMT
25 د
مدار الليل والنهار
13:00 GMT
183 د
مدار الليل والنهار
18:03 GMT
120 د
مدار الليل والنهار
20:03 GMT
30 د
أمساليوم
بث مباشر

من سوريا... سيناتور أمريكي يعبر عن سعادته بعودة الأمان وينتقد حكومة بلاده

© AP Photo / Diaa Hadidالعلم السوري
العلم السوري - سبوتنيك عربي
تابعنا عبر
عبر السيناتور الأمريكي ريتشارد بلاك عن سعادته بعودة الأمان إلى سورية وأمله في أن يتم القضاء على ما تبقى من بؤر إرهابية، معتبرا أنه على العالم أجمع أن يفرح بالانتصارات التي تحققها سوريا.

في تصريح للصحفيين لدى مغادرته الأراضي السورية عند معبر جديدة يابوس اليوم لفت بلاك إلى أنه لمس خلال زيارته إلى سورية محبة الشعب السوري لجيشه وقيادته الذين حافظوا على وحدة البلاد وأعادوا الأمان إليها، وفقا لوكالة "سانا".

الرئيس اللبناني ميشال عون - سبوتنيك عربي
الرئيس اللبناني: المبادرة الروسية فرصة لتنظيم عودة النازحين
وأشار بلاك إلى أنه في الوقت الذي كانت فيه سورية وحلفاؤها يحاربون تنظيم "داعش" الإرهابي كان الدعم والأوامر والتمويل يأتي للتنظيم من قبل الاستخبارات الغربية في بريطانيا والولايات المتحدة الأمريكية والسعودية وقطر وتركيا.

وأشاد بلاك بما لمسه من حالة الأمان والاستقرار في المناطق التي زارها ودور المصالحات التي رعتها الدولة السورية ونشرت السلام في أرجاء البلاد وأعادت الناس إلى بيوتهم وأعمالهم.

وانتقد بلاك الدبلوماسيين الأمريكان الذين لا يتوقفون عن تهديد الشعوب بالحرب والقتل وفرض العقوبات بدل البحث عن أرضية مشتركة للتعاون بين الدول والشعوب.

شريط الأخبار
0
للمشاركة في المناقشة
قم بتسجيل الدخول أو تسجيل
loader
المحادثات
Заголовок открываемого материала